Koszyk

Dodano produkt do koszyka

Darmowa wysyłka

Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Książka

- 12%

Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Piotrowski Janusz, Kostyrko Krystyna

Opinie: Wystaw opinię
Opinie, recenzje, testy:

Ten produkt nie ma jeszcze opinii

Twoja opinia

aby wystawić opinię.


Cena: 99.00 zł 86.73 brutto

Najniższa cena z 30 dni przed obniżką: 86.73 zł

Ilość:
Liczba sztuk w magazynie:
11
Wyślemy w:
3 dni
Koszty dostawy:
  • Orlen Paczka 11.49 zł brutto
  • Paczkomaty InPost 14.49 zł brutto
  • Kurier Fedex. 15.49 zł brutto
  • Kurier DPD 17.59 zł brutto
  • Kurier InPost 15.99 zł brutto
  • Odbiór osobisty 0.00 zł brutto
Kod producenta:
9788301170516
Zapytaj o produkt

Wszystkie pola są wymagane

Opis produktu

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii!
Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono:
·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar;
·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej;
·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych;
·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności,
·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów;
·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania;
·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium;
·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania;
·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności;
·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005.

W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych.

Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię fizyczną i analityczną.

Autorzy
Piotrowski Janusz, Kostyrko Krystyna
Język
polski
Wydawnictwo
Wydawnictwo Naukowe PWN
ISBN
9788301170516
Rok wydania
2022
Wydanie
2
Liczba stron
582
Oprawa
Miękka
Format
17.0x24.0cm
Ciężar
0.98 kg
Typ publikacji
Książka

Produkty podobne

Metrologia

-16%

Metrologia

Cena: 64.90 zł 54.32 zł

Najniższa cena z 30 dni przed obniżką: 54.32 zł

Wartości estetyczne w metrologii

-12%

Wartości estetyczne w metrologii

Cena: 39.00 zł 34.16 zł

Najniższa cena z 30 dni przed obniżką: 34.16 zł